В НовГУ создали ПО, которое распознает внешние дефекты монолитных интегральных схем (МИС) и контролирует качество выпускаемых изделий для микроэлектроники. Разработка велась на грант «Студенческий стартап» в размере 1 миллион рублей, сообщили в пресс-службе вуза.
Умный софт упростит и ускорит процесс отбраковки изделий для микроэлектроники. Специалисты НовГУ разработали его с использованием алгоритмов работы нейросетей.
«Программное обеспечение работает следующим образом: одна его модель нейросетей обнаруживает внешние дефекты и передает собранные данные второй, которая прогоняет их по своей базе и распознает. В результате оператор получает аналитический отчет, на основании данных которого принимает решение, принять эти дефекты или признать изделие годным», — пояснили в учреждении.
Сейчас создана бета-версия продукта. Проводится тестирование на мощностях заказчика софта, одного из научно-производственных предприятий региона. Затем ПО доработают и передадут заводу.
